老化測(cè)試系統(tǒng)
型 號(hào)SD2000
所屬分類(lèi)檢測(cè)儀
報(bào)價(jià)
更新時(shí)間2024-06-12
產(chǎn)品描述：SD2000老化測(cè)試系統(tǒng)提供對(duì)MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲(chǔ)器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試，將老化與電參數(shù)測(cè)試結(jié)合，在老化過(guò)程中可測(cè)試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
產(chǎn)品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子 |
產(chǎn)品描述
SD2000老化測(cè)試系統(tǒng)提供對(duì)MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲(chǔ)器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試，將老化與電參數(shù)測(cè)試結(jié)合，在老化過(guò)程中可測(cè)試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
基本特點(diǎn):
1. 老化測(cè)試系統(tǒng)單板128路雙向I/O通道，共用8個(gè)時(shí)鐘邊沿（6個(gè)驅(qū)動(dòng)邊沿，2個(gè)比較邊沿）
2. 1Mbit/通道圖形深度，失效存儲(chǔ)深度1kbit/通道，只存失效
3. 支持圖形向量微指令
4. 單板4通道PMU，提供 FV,FI,MV,MI功能，電壓范圍-3V~+12V；電流范圍-80mA~+80mA
5. 數(shù)字通道驅(qū)動(dòng)電壓范圍-3V~+12V；比較電壓范圍-3V~+12V
6. 數(shù)量可配置程控電源，可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等
7. 提供各老化試驗(yàn)區(qū)電壓、電流測(cè)試
8. 128個(gè)輸出控制繼電器
9. 試驗(yàn)溫度范圍：5℃～150℃；溫度均勻度±3℃
10.RJ45網(wǎng)口數(shù)據(jù)傳輸與控制
11.高溫老化試驗(yàn)箱分16個(gè)區(qū)域，支持同時(shí)老化測(cè)試16種不同類(lèi)型、不同封裝形式的器件
12.系統(tǒng)提供電源過(guò)壓、過(guò)流和短路保護(hù)
- 上一個(gè)： SD1000老化測(cè)試系統(tǒng)
- 下一個(gè)： SD6100射頻測(cè)試系統(tǒng)