探傷儀
型 號(hào)SD-X3
所屬分類(lèi)探傷儀
報(bào)價(jià)10000
更新時(shí)間2023-05-04
產(chǎn)品描述：探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具，如：全聚焦方式（TFM）圖像和高級(jí)成像功能，可使用戶(hù)更加充滿(mǎn)信心地完成檢測(cè)。更好的缺陷成像性能，可以更清晰地顯示微小的缺陷可為早期的高溫氫致（HTHA）缺陷成像，以在關(guān)鍵的早期探測(cè)到這種缺陷機(jī)載聲學(xué)影響圖（AIM）的反射率模擬器有助于以圖像方式顯示全聚焦方式（TFM）的靈敏度，還可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)節(jié)
產(chǎn)品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-5萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保 |
| A掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)的最大數(shù)量 | 最高達(dá)16384個(gè) |
探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具，如：全聚焦方式（TFM）圖像和高級(jí)成像功能，可使用戶(hù)更加充滿(mǎn)信心地完成檢測(cè)。更好的缺陷成像性能，可以更清晰地顯示微小的缺陷
可為早期的高溫氫致（HTHA）缺陷成像，
以在關(guān)鍵的早期探測(cè)到這種缺陷
機(jī)載聲學(xué)影響圖（AIM）的反射率模擬器有助于
以圖像方式顯示全聚焦方式（TFM）的靈敏度，還可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)節(jié)
探傷儀性能可靠，令人信賴(lài)
符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，防雨防塵
機(jī)載GPS，可提供采集數(shù)據(jù)的位置
可通過(guò)無(wú)線方式連接到奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng)，以下載最新的軟件
得益于25 GB的文件容量，儀器可以無(wú)需停歇，持續(xù)掃查
數(shù)據(jù)技術(shù)規(guī)格
| 處理 | |
|---|---|
| A掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)的最大數(shù)量 | 最高達(dá)16384個(gè) |
| 實(shí)時(shí)平均 | PA：2、4、8、16 UT：2、4、8、16、32、64 |
| 檢波 | 射頻、全波、正半波、負(fù)半波 |
| 濾波 | PA通道：3個(gè)低通、6個(gè)帶通和4個(gè)高通濾波器 UT通道：8個(gè)低通、6個(gè)帶通和4個(gè)高通濾波器（當(dāng)配置為T(mén)OFD時(shí)，為3個(gè)低通濾波器） |
| 視頻濾波 | 平滑（根據(jù)探頭頻率范圍調(diào)節(jié)） |
| 可編程TCG | |
| 點(diǎn)的數(shù)量 | 32個(gè)：每個(gè)聚焦法則有一條TCG（時(shí)間校正增益）曲線 |
| 范圍 | 相控陣（標(biāo)準(zhǔn)）：40 dB，步距為0.1 dB 相控陣（擴(kuò)展）：65 dB，步距為0.1 dB 常規(guī)超聲：100 dB，步距為0.1 dB |
| 最大斜率 | 相控陣（標(biāo)準(zhǔn)）：40 dB/10 ns 相控陣（擴(kuò)展）：0.1 dB/10 ns 常規(guī)超聲：40 dB/10 ns |
- 上一個(gè)： SD-W500雙目融合熱成像儀
- 下一個(gè)： SD-27MG手持式測(cè)厚儀